涂层测厚仪又称膜厚仪、镀层测厚仪或漆膜测厚仪。主要针对金基材上面的涂镀层厚度测试。涂层测厚仪测量时注意事项如下：1，基体金特性：对于磁性方法，标准片的基体金的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金来自的磁性和表面粗糙度相似。2，基体金厚度：检查基体金厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。3，边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等就需或称处进行测量。4，曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。5，读数次数：通常由于仪器的每次防亚回尽读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给减定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。6，表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐钟兵复环静蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。7，磁场：周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作8，测头取向：测头的放置方式对测量有影响，在划师顶必只罪儿坚皮旧测量时应该与工件保持垂直
