产品型号：CB-2000 

全新的一体化设计，具有优异的光学成像质量，方便使用的正像光学系统，是理想的

检测半导体器件的工具，支持 3种激光波长，可在半导体和液晶基板中使用激光切割

和薄膜技术。可以广泛应用于半导体、电子、冶金等行业的制造和研究领域。

技术参数： 

光学系统： UCIS无限远色差独立校正光学系统 

观察筒： 铰链式双目，30°倾斜，360°可旋转

瞳孔距调节范围：52-75mm（48-75mm可选），视度可调 

目镜： 高眼点大视野平场目镜，WF10X/20mm 

物镜： 无限远长工作距离金相平场消色差物镜10X、20X(S)、50X(S)、80X(S) 

转换器： 内倾式5孔转换器

载物台： 156*138mm双层复合式机械移动平台，移动范围：76*54mm 

调焦机构： 低位粗动同轴调焦手轮；微动手轮0.1mm/转，格值0.001mm；微调格值越小，调焦 越清晰。 粗动松紧可调，14mm/转；工作台上限位装置，大行程20mm 照明

装置： 12V50W卤素灯反射照明，亮度可连续调节。可选配12V100W卤素灯照明。 

摄像接头:C-Mount接头