上海屹持光电技术有限公司提供CCD式光束质量分析仪和刀口式光束质量分析仪。
CCD式光束质量分析仪：高分辨率：高分辨率激光光束质量分析仪（1.4M像素）带有电动光学滤波轮组（软件或者ActiveX控制）。具有12位的动态范围，能对连续光和脉冲光的形状，位置，功率等光束特性进行全方位测量。USB2.0接口，Duma可提供一系列的测量配件，集成的电动滤波轮和三片衰减片，通过滤波轮软件自动调节，可测量从nW到1W不同强度的激光。专利技术：Duma的CCD光束质量分析仪是一种既可以测量连续光也可以测量脉冲光的光束质量诊断设备。具备光束宽度，光束形状，位置，功率，强度分布等多种参数测试能力。使用USB2.0数据且可以用软件控制。通多控制衰减片的倍数多次测量，可以突破动态范围的限制来精确测量大的动态范围的激光束。这种专利技术可以测量相对于最强点1%的功率动态范围分布，这种技术可测量功率密度最强点到最弱点。亚微米：亚微米级别光束质量分析仪为亚微米级别光斑提供了光束分析和图形处理功能。主要应用于CD唱头，激光二极管，唱头透镜和光学元件调整，小直径光束，以及任何需要光束测量的系统。刀口式光束质量分析仪专利技术在不同的交叉角和不同的交叉面对光束空间强度进行断层重建从而测量光束质量。提供了高分辨率光束直径和剖面测量，并能够显示光束功率分布的二维和三维视图。一、BeamAnalyzer刀口式光束质量分析仪 |
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| l12 bit A/D
l同时高分辨率采样所有模式
l实时检测光束质量、尺寸和高斯拟合
l实时显示光束2D/3D图像
l测量光束的中心、椭圆度和功率
lExcel数据存储，RS232或TCP/IP数据传输
l可保存快照图像
l自动验证分析报告 |
主要参数：| 传感器类型 | | Si/UV-Si/IR/IRE | | 光谱范围 | Si
UV-Si
IR
IRE | 350-1100nm
190-1100nm
800-1800nm
1200-2700nm | | 刀片数 | | 3（BA3头）
7（BA7头） | | 光束尺寸范围 | BA3-Si和BA3-UV
BA7-Si和BA7-UV(椭圆形)
BA7-Si和BA7-UV（圆形）
BA3-IR3和BA3-IR3-E
BA7-IR3和BA7-IR3-E
BA3-IR5
BA7-IR5 | 3µm-5mm
15µm-10mm
15µm-9mm
3µm-3mm
15µm-3mm
3µm-5mm
15µm-5mm | | 光束宽度分辨率 | >100µm
<100µm | 1µm
0.1µm | | 光束宽度精确度 | | ±2% | | 功率范围 | Si和UV-Si探头
InGaAs探头 | 10µW-1W(有衰减片)
10µW-5mW(无衰减片) | | 功率精确度 | Si和UV-Si探头
InGaAs探头 | ±5%
±10% | | 功率分辨率 | | 0.1µW | | 位置精确度 | | ±15µm | | 位置分辨率 | | 1µm | | 饱和度 | Si和UV-Si探头 | 0.1W/cm2(无衰减片)，20W/cm2(NG9) | | 测量速率 | | 5Hz | | 温度 | | 0℃-35℃ | | PC接口 | | USB2.0 |
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选型：
BA3-Si-USB: 3-blades, Si detector 5mm circular
BA7-Si-USB: 7-blades, Si detector 9mm square
BA3-UV-USB: 3-blades, UV-Si detector 5mm circular
BA7-UV-USB: 7-blades, UV-Si detector 9mm circular
BA3-IR3-USB: 3-blades, InGaAs detector 3mm circular
BA3-IR3E-USB: 3-blades,InGaAs Enhanced 3mm circular
BA7-IR3-USB: 7-blades, InGaAs detector 3mm circular
BA7-IR3E-USB: 7-blades, InGaAs Enhanced 3mm circular
BA3-IR5-USB: 3-blades, InGaAs detector 5mm circular
BA7-IR5-USB: 7-blades, InGaAs detector 5mm circular可选附件：SAM3-B Beam Sampler: with mounting adapter Sampling reduction factor 0.0016 average
BA-Fiber: A fiber adapter with an FC connector
BA-Mount: A mount enabling head rotation about the optical axis二、BeamOn光束质量分析仪 |
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| l独特技术：宽的动态范围
l连续脉冲都可测量
l宽的波长响应范围，从紫外到红外（190nm-1550nm）
l友好的软件操作，具有完整的联机帮助程序
l实时显示光束2D/3D图像，检测光束尺寸和高斯拟合
l自动验证分析报告 |
主要参数：| 参数 | 数值 | | 相机类型 | CCD 1/2" | | 探测响应面积 | 6.47mm x 4.83mm | | 像原大小 | 8.6µm x 8.3µm | | CCD聚焦位置 | 4.6mm±0.5mm | | 可测量光谱范围 | BeamOn UV: 190-1100nm
BeamOn VIS: 350-1100nm
BeamOn-IR1310: 350-1310nm
BeamOn-IR1550: 1550nm+/-50nm | | 电源 | 12V,0.9W | | 动态范围 | ≤1011 | | 快门速度 | 1/50s-1/100000s | | 增益 | 6dB-60dB | | 灵敏度 | 0.5nW/cm2@633nm
1.5µW/cm2@1310nm
5µW/cm2@1550nm | | 饱和密度 | 1mW/cm2(无衰减片，VIS/UV模式)
5mW/cm2(无衰减片，IR1550模式) | | 损伤阈值 | 50W/cm2, 1J/cm2( (安装上所有的衰减片) |
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三、BeamOn WSR光束质量分析仪 |
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产品特点：
l可测量光谱范围宽 190nm-1600nm
l连续，脉冲激光均可测量
lUSB2.0通讯接口
l2D/3D实时测量显示
l可测光束能量分布，外形轮廓，位置。
l实时的数据记录和统计
l软件操作方便快捷，便于在线应用
产品应用：
l激光光束分析：轮廓，光束尺寸，位置，功率
l激光光束质量分析
l多波长激光准直
性能参数：| 光谱范围: | VIS-NIR: 350-1600nm
UV-NIR: 190-1600nm | | 相机类型: | WSR宽波段CCD ½” | | 探测响应面积: | 6.47mm x 4.83mm. | | 像素: | 8.6 μm (H) X 8.3 μm (V) | | 尺寸: | 80mm x 78.5mm x 49mm 含滤波片 | | 功率消耗: | 5V, 0.6 A (USB 2.0 Port) | | 工作温度: | -10ºc -50ºc | | 快门速度: | 1/50s-1/100000s | | 增益: | 6dB to 41dB | | 最大帧速: | 25Hz（无慢速快门操作） | | 灵敏度: | ~160μW/cm² @ 1550nm | | 饱和功率密度： | ~1mW/cm² @ 633nm （无衰减片） | | 损伤阈值: | 50W/cm²/1J/cm² （安装上所有衰减片） |
可选配件：强度衰减片，长通滤波片，可达1kW的光束分束器SAM3 |
