在进行分析法开发及有效性验证过程中，对于色谱柱制造均一性的要求已经越来越高。而Shim-pack VP-ODS正是为了满足这一需求而开发出来的产品。 稳定化二氧化硅基材品质的稳定性，对于十八（烷）基导入及端基封尾，确立了高重现性的表面修饰技术。 可以满足研究开发部门、品质管理部门的严格要求，可作为标准ODS色谱柱来使用。 理论塔板数越大、压力越低的色谱柱就越易于使用。您只要比较每1Mpa下的理论塔板数即可清楚，Shim-pack VP-ODS是性能优异的色谱柱。
在Shim-pack VP-ODS中，随附有3枚支持LC分析法有效性验证的品质证明书。
①Certificate of Analysis for Packing Material（Physical Properties）
与填料的物性有关的分批次证明
②Certificate of Analysis for Packing Material（Chromatographic Performance）
与填料的保留、分离特性有关的分批次证明
③Shim-pack Column Performance Report
各色谱柱的填充状态证明
证明是根据这些证明书中所记载的规格值来实施制造管理的，有着优异的色谱柱制造均一性。
技术参数 金属杂质含量 | 30ppm以下（Al, Fe, Ti, Mg, Ca, Na 各10ppm以下） | 粒径 | 约5μm | 细孔径 | 约12nm（120A） | 细孔容量 | 约1.2mL／g | 比表面积 | 约410m2／g | ODS官能团 | 单官能的 | 端基封尾 | 有 | 含碳率 | 约20％ | ODS被覆率 | |
|
|
